X熒光光譜儀

產品簡介

X熒光光譜儀分析范圍: 1PPM-99.99% 同時分析: 幾十種元素同時分析測量鍍層：鍍層厚度測量精確至0.005微米

產品型號：JC15-EDX6000

更新時間：2025-01-28

廠商性質：生產廠家

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X熒光光譜儀 硅針半導體探測器 X光管探測器

型號： JC15-EDX6000

一、技術指標:

分析范圍: 1PPM-99.99%

同時分析: 幾十種元素同時分析

測量鍍層：鍍層厚度測量精確至0.005微米

測量對象: 固體、粉未、液體

測量時間: 60-300 秒

測量精度 : 0.05%

分析元素: Na-U

工作溫度: 15-26℃

相對濕度: ≤70%

重量 : 100KG

功耗: 200瓦

二、儀器配置：

多樣自動進樣系統

計算機、噴墨打印機

真空泵（可選）

壓片機（可選）

硅針半導體探測器

放大電路

高低壓電源

X光管

X熒光光譜儀 硅針半導體探測器 X光管探測器

型號： JC15-EDX6000

一、技術指標:

分析范圍: 1PPM-99.99%

同時分析: 幾十種元素同時分析

測量鍍層：鍍層厚度測量精確至0.005微米

測量對象: 固體、粉未、液體

測量時間: 60-300 秒

測量精度 : 0.05%

分析元素: Na-U

工作溫度: 15-26℃

相對濕度: ≤70%

重量 : 100KG

功耗: 200瓦

二、儀器配置：

多樣自動進樣系統

計算機、噴墨打印機

真空泵（可選）

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